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基于高低温试验箱的家电低温环境功能与耐久性测试方法
点击次数:39 更新时间:2026-03-07

一、前言

在低温环境下,家电产品的材料性能、电气特性、运行稳定性均可能发生变化。为验证产品在低温条件下的功能完整性、运行可靠性及结构耐久性,需通过高低温试验箱模拟实际低温环境,开展低温启动、低温连续运行、低温恢复等项目测试,确保产品在低温场景下可正常使用。高低温试验箱适用于各类家电产品的低温环境可靠性验证。

二、试验设备

高低温试验箱

测试温度:-10℃-15℃-20℃(根据产品使用环境选择)

温度波动度:≤±2℃

测试时长:根据产品类型设定

三、测试流程

1. 样品预处理

将待测家电产品在常温环境(25℃±5℃)下放置 2h 以上,确保产品内部温度与环境一致。

检查产品外观、结构、电气连接是否正常,记录初始状态。

2. 低温放置

将产品放入高低温试验箱,关闭箱门。

设置试验温度,以不大于 1℃/min 的速率降温至目标低温。

达到设定温度后,保持 2h4h,使产品整体温度稳定。

3. 低温启动测试

在稳定低温条件下,按正常操作方式启动产品。

观察并记录:

是否可正常启动

有无异响、异味

显示、控制功能是否正常

连续启动 3 次,记录每次结果。

4. 低温连续运行耐久性测试

产品启动后保持连续运行。

运行时长:2h8h(根据产品类型确定)。

运行期间定时记录:

工作电流、功率

功能状态

有无异常现象

5. 低温恢复测试

测试结束后,将产品从试验箱取出,放置于常温环境恢复 2h

再次启动产品,检查功能、外观、结构是否正常。

确认产品在低温暴露后仍可正常使用。

6. 结果判定

产品在低温测试及恢复后,满足以下要求则测试通过:

可正常启动与运行

功能无异常

外观、结构无开裂、变形等问题

电气性能稳定

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