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电子产品在在极速温度变化下性能试验方法
点击次数:238 更新时间:2023-06-20

电子产品在在极速温度变化下性能试验方法:

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目的:

确定产品在温度急剧变化气候环境下储存、运输、使用的环境适应性能力。在高温与低温瞬间变化条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,通过测试后的检测,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用;

试验方法:

1.温度范围: -45°C~+85℃

2.温度转换时间:<3min

3.高低温极限温度各保持2小时

4.循环次数为10次

5.试验过程中不通电,试验结束后,检查外观和通电测试产品功能

6.循环次数每检测标准要求的不同,有的要求3次,5次,10次循环的都有,高低温保持时间也是根据产品的实际使用场所以及用户的要求来确定.

快速温变测试也被称为温度循环试验,温度变化速率一般要求5度/min、10度/min、15度/min。快速温变试验适用于航空航天产品、仪器仪表、电工电子产品、各种电子元气件在极速温度改变条件下发现早期故障的一种环境应力筛选试验方法。

快速温变试验实验室新引进的快速温变/温度循环试验箱内箱尺寸:高 1200mm、宽 1000mm、深 1000mm。温度变化速率可高达15度/min,可以满足民用设备的环境应力筛选试验条件。

快速温度变化试验在实际应用中有两类:

一类为慢速的温度变化试验,其温度变化速率<3℃/min(一般各标准经常选择参数为1℃/min),也既一般应用中的温度变化、温度循环、温度交变试验(此三类为一种试验);

另一类为快速的温度变化试验,其温度变化速率≥3℃/min,也既一般应用中的快速温变试验。

快速温度变化试验的特点:

产品在试验中工作、温度变化的速率一定。温度变化速率一般为3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min,15℃/min,20℃/min,25℃/min。